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产品编号：BEM-SPMI-200D

上架时间： 2024/09/23

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测量原理：

本仪器测量原理为直角坐标测量法，即通过X轴、Z1轴传感器，测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点，通过电器组件，将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机，软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理，标注所需的工程测量项目。

此款仪器已可同国外进口仪器性能相比，各方面指标已达到国际标准，仪器符合国家标准GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及国际标准ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求.

设备参数：

测量范围	X方向驱动器		140mm
	Z1	轮廓度量程	20mm
	Z1	粗糙度量程	±1500μm
	Z1	分辨率0.02微米
	Z轴高度（立柱）		400mm
	可检测最小内孔		5mm
轮廓技术参数	线性精度		±（1.2+\|0.12H\|）μm
	圆弧		±（1.2+R/12）μm
	角度		±1′
	直线度		0.7μm/100mm
粗糙度技术参数	线性精度		≤±5%
	残值噪声		≤0.005μm
	重复稳定性		试值3%
	截止波长		0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm
	评定长度		λcX1、2、3、4、5
传感器	芯片类型		美国
	分辨率		0.02μm
	产地		美国
爬坡角度			上升77度下降87度
粗糙度评定参数			Ra、Rz、(Rmax、Ry)、Rt、Rp、Rpm、Rz(jis)、Rv、R3z、Rs m、Rsk、Rk、Rc、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2
测量速度			0.05-20mm/s
Z轴速度			0.05-20mm/s