BEM-SPMI-400轮廓测量仪

产品编号:BEM-SPMI-400

上架时间: 2024/09/23

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详情介绍

测量原理:

  本仪器测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z1轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理,标注所需的工程测量项目。

  此款仪器已可同国外进口仪器性能相比,各方面指标已达到国际标准,仪器符合国家标准GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及国际标准ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求

设备参数:

测量范围

X方向驱动器

140mm

Z1

轮廓度量程

40mm

Z1

分辨率0.1微米

Z轴高度(立柱)

400mm

可检测最小内孔

5mm

轮廓技术参数

线性精度

±(1.2+|0.12H|)μm

圆弧

±(1.2+R/12μm

角度

±1′

直线度

0.7μm/100mm

传感器

芯片类型

美国

分辨率

0.1μm

产地

美国

爬坡角度

上升77度 下降88度

测量速度

0.05-20mm/s

Z轴速度

0.05-20mm/s