BEM-CST-50冲击试样缺口投影仪

产品编号:BEM-CST-50

上架时间: 2024/10/06

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详情介绍

BEM-CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。

 主要技术指标

1、 投影屏直径 :180mm

2、工作台尺寸 :

方工作台尺寸:110×125mm

方工作台直径:90mm

工作台玻璃直径:70mm

3、工作台行程 :

纵向:±10mm

横向:±10mm

升降:±12mm

4、工作台转动范围: 0360°

5、仪器放大倍率:50X

物镜放大倍率: 2.5X

投影物镜放大倍率:20x

6、光源(LED):24V  20W

7、电源:  220V   50Hz

8、外形尺寸:515×224×603mm

9、重量:  20kg