BEM-CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。

 主要技术指标：

1、 投影屏直径 ：180mm

2、工作台尺寸 ：

方工作台尺寸：110×125mm

方工作台直径：90mm

工作台玻璃直径：70mm

3、工作台行程 ：

纵向：±10mm

横向：±10mm

升降：±12mm

4、工作台转动范围: 0～360°

5、仪器放大倍率：50X

物镜放大倍率： 2.5X

投影物镜放大倍率：20x

6、光源（LED）：24V  20W

7、电源：  220V   50Hz

8、外形尺寸：515×224×603mm

9、重量：  20kg